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東北大学 先端電子顕微鏡センター The Electron Microscopy Center, Tohoku University (旧) 百万ボルト電子顕微鏡室 検索 検索 ホーム » 装置 » 走査電子顕微鏡 ホーム ご挨拶 メンバー 装置 透過電子顕微鏡 走査電子顕微鏡 FIB その他の装置 利用申請 業績 アクセス お問い合わせ マシンタイム 走査電子顕微鏡 装置名称高分解能・低加速電圧走査型電子顕微鏡超高分解能走査型電子顕微鏡 SU-8000 (日立ハイテクノロジーズ）S-5500 (日立ハイテクノロジーズ） 電子銃 FE 電子銃 加速電圧: 0.1～30kVFE 電子銃 加速電圧: 0.5～30kV 二次電子像分解能高加速電圧15kV 1.0 nm (WD=4mm)高加速電圧30kV 0.4nm 低加速電圧1kV1.3nm (WD=1.5nm)低加速電圧1kV 1.6nm EDS分析装置（Thermo) 最大試料サイズ100mm径（最大）平面 5.0mm×9.5mm×3.5mmH 断面 2.0mm×6.0mm×5.0mmH Powered by WordPress / Academica WordPress Theme by WPZOOM
